該設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。

箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內(nèi)膽采用不銹鋼板，箱門中間設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗情況。外型整體美觀大方。保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細(xì)玻璃棉，具有強度高，保溫性有好等特點。該設(shè)備主要溫度控制儀采用智能數(shù)顯溫濕度控制儀，人性化設(shè)計的操作方法，易學(xué)易用。具備自動演算功能，升溫、降溫、獨立，*的BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。制冷系統(tǒng)采用全封閉進(jìn)口壓縮機組，機械式單級制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)，全自動控制與安全保護協(xié)調(diào)系統(tǒng)。加熱采用不銹鋼翅片加熱管。

該設(shè)備是按照下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造的:

GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備

GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則